客戶(hù)咨詢(xún)熱線：
18922517093
日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒(méi)有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱(chēng)為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：825
union組裝電池晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1105
union電動(dòng)自行車(chē)晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)自行車(chē)晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)簦瑪嗦菲?，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1182
union便攜式電源晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1188
union高壓汽車(chē)晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1167
union電動(dòng)汽車(chē)晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)汽車(chē)晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1152
union電動(dòng)工具晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)工具晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1117
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1177
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1206
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1131
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1139
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1113
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1125
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1170
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1105
