量化材料表面處理的細微差別-發(fā)射率測量儀TSS-5X-3

發(fā)布日期：2024-04-22      瀏覽次數(shù)：484

量化材料表面處理的細微差別-發(fā)射率測量儀TSS-5X-3

使用發(fā)射率計 TSS-5X-3，您可以輕松測量室溫下樣品的發(fā)射率。發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作簡單。






量化材料表面處理的細微差別

TSS-5X-3 可讓您輕松測量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作方便。


它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導體和核電。

 

TSS-5X-2 已更新為 TSS-5X-3。

■更新要點

① 更換交流電源入口
供電區(qū)域重新設(shè)計，改為通用交流電源入口。
現(xiàn)在可以更換電源線以適應(yīng)不同的國家/地區(qū)。
除此之外，電源開關(guān)和保險絲盒也集成在一起。
外觀更加干凈，可用性也得到了提高。

 

②您可以根據(jù)您的目的地選擇電源線，
請從下表中指適合您所在國家/地區(qū)的電源線。
*價格不會根據(jù)電纜類型而變化。

產(chǎn)品特點

• 量化材料表面處理的細微差別

  通過了解發(fā)射率，您可以提高加熱設(shè)備的輻射效率，設(shè)計強調(diào)散熱和隔熱的材料，還可以用于節(jié)省能源。

  TSS-5X-3使用兩種類型的參考件（發(fā)射率0.06和0.97），其參考發(fā)射率是預(yù)先已知的，并且可以在室溫下輕松測量，無需加熱樣品。

  它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導體和核電。

• 測量原理

  

  紅外線被樣品反射，一部分紅外線通過半球形黑體爐頂部的小孔進入。
  檢測元件以恒定速率檢測該能量。