正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

發(fā)布日期：2022-11-30      瀏覽次數(shù)：975

正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析



產(chǎn)品概要

• 這是一種可以使用正電子評(píng)估亞納米尺寸（原子級(jí)）的微小缺陷和空隙的方法。

• 正電子壽命測(cè)量是一種能夠使用正電子評(píng)估亞納米尺寸（原子級(jí)）微缺陷和空隙的技術(shù)。

本裝置應(yīng)用實(shí)例

•  噴丸質(zhì)量檢查

• 金屬疲勞損傷評(píng)估

適用于

•  鋼、鋁、鈦等各種金屬

•  非晶態(tài)材料，例如玻璃和聚合物

•  測(cè)量深度距表面約50μm（鋼材）

*與產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所共同開(kāi)發(fā)

正電子壽命法原理



• 圖1是正電子進(jìn)入金屬材料并湮滅的示意圖。
  正電子壽命測(cè)定法是準(zhǔn)確測(cè)定正電子產(chǎn)生時(shí)放出的γ射線(xiàn)與電子對(duì)湮滅時(shí)產(chǎn)生的γ射線(xiàn)的時(shí)間差（正電子壽命）的技術(shù)。材料中空位越多，位錯(cuò)密度越高，正電子壽命越長(zhǎng)。

• ■所謂陽(yáng)電子

• 帶正電荷的電子“反粒子"。與電子相遇就會(huì)對(duì)消失γ放出線(xiàn)。

• ■所謂正電子壽命

• 是指正電子與電子相遇并消失之前的時(shí)間（壽命）。正電子壽命取決于電子密度，空隙尺寸越大，電子密度越低，所以正電子壽命會(huì)更長(zhǎng)。

常用規(guī)格

正電子源	Na-22 (~1MBq)
計(jì)數(shù)率	約 100 厘泊
測(cè)量范圍	40 ns（對(duì)于金屬、半導(dǎo)體和聚合物）
附屬設(shè)備	?HDO4024（Teledyne LeCroy DSO）、 （HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]） ?特殊程序 ?筆記本電腦等。